深圳市安普檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司業(yè)務(wù)部

深圳電子元器件鍍層厚度測(cè)試，專(zhuān)業(yè)金屬鍍層檢測(cè)中心

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檢測(cè)概述

鍍層意義

對(duì)產(chǎn)品表面進(jìn)行涂鍍層處理，其目的在于改善產(chǎn)品的防腐、防銹、防磨損、高硬度、改善美觀(guān)等。涂鍍層表面分析是指對(duì)含有涂層或鍍層的產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)成分分析以及物理性能的測(cè)試。所涉及的對(duì)象有電子電器、汽車(chē)、金屬配件、刀具等。

檢測(cè)方法

鍍層厚度測(cè)試：光學(xué)顯微鏡 GB/T 6462-2005 ASTM B487-85(2007)
鍍層厚度測(cè)試：SEM測(cè)量 鍍層厚度測(cè)試：X-射線(xiàn)法 GB/T 16921-2005 ASTM B568-98(2004)
渦流法 ISO2360-2003 GB/T 4957-2003 

多層鎳電位差 ASTM B764-04 

鍍鋁量測(cè)試 ASTM A428/A428M-10  

鍍鋅量試驗(yàn) GB/T 1839-2008 ASTM A90/A90M-09 

鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化物鍍層單位面積質(zhì)量 ASTM B137-1995(2004) ISO 2106-1982 GB 8014.2-2005

 鋁合金陽(yáng)極氧化膜封孔質(zhì)量的評(píng)定－酸處理后的染色斑點(diǎn)法 ASTM B136-84(2008)e1 

用酸溶解法測(cè)定鋁的陽(yáng)極鍍層封閉質(zhì)量的試驗(yàn)方法 ASTM B680-80(2004) 

磷化物轉(zhuǎn)化膜重量測(cè)試 GB/T9792-2003 ISO 3892-2000

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